詳細信息
X射線熒光分析法原理及特點
用X射線轟擊樣品,樣品受激發后產生X射線熒光,X射線通常把元素原子層K層和L層的內層電子打出原子,產生的空穴被高能量的外層電子填補。補充到低能量軌道上的高能量電子把多余的能量以X射線熒光輻射出來。這些輻射出來的譜線中含有各種元素的特征,像指紋一樣,并且獨立于原子的化學價態。輻射的強度與樣品中該元素的濃度成正比。
應用領域

性能特點
儀器體積更小、重量更輕,方便攜帶。
處理芯片的算法和軟件相配合,使得儀器分析速度更快。
選用X光射線發射管和高分辨率探測器,結合數字多道處理技術,使得TrueX手持式X熒光光譜儀具有較高分析精度。
用戶可自定義創建報告:包括公司標志、公司地址、檢測結果、光譜譜圖及其他樣品信息(如產品描述、產地、批號等)。
內置的環境感應系統。使得TrueX能夠實時感知周圍環境變化,并自動做出參數調整,以適用高低溫、粉塵、陰暗潮濕等端條件下的元素分析。
內置DoubleBeam™技術自動感知儀器前方有無樣品, 提高射線的安全性和防護等級。且自動根據外部環境亮度調節顯示器亮度。
可將設備聯入互聯網,可遠程對儀器進行設置及檢修。
TrueX內置的全新凈強度擬合算法,優化了光譜解析過程,使得TrueX擁有與實驗室大型設備相媲美的低檢出限。
具有MSBUS總線的智能電池、實時監控電池、備用電池可直接查看電池剩余容量。
工業電阻觸摸屏,相比電容屏具有更好的背光性能,在野外強光下依然可見,同時減輕野外特殊環境脫手套操作的危險性。
技術參數及規格
